Wylie分析法
注解
Wylie分析法是对牙颌面形态结构深度及高度的测量。所有的测量主要是线距的测量。面部深度测量以蝶鞍点作为测量座标，以眼耳平面为基准平面，由蝶鞍中心和所要测量的各标志点向眼耳平面作垂线，测量标志点垂足与蝶鞍点垂足之间距离，或测量标志点垂足之间的距离。所有测量均以毫米为测量单位。
(1)髁突后切线-蝶鞍中心(co-s)：髁突后缘和蝶鞍中心向眼耳平面作垂线，两垂足间之距离。代表下颌的位置。
(2)蝶鞍中心-翼上颌裂(Ptm-S)：蝶鞍中心垂线至翼上颌裂垂线间的距离。代表上颌的位置。
(3)上颌长度(ANS-Ptm)：翼上颌裂垂线至前鼻棘垂线间的距离。
(4)翼上颌裂-上第一恒磨牙(Ptm-6〖TXX-〗)：翼上颌裂垂线至上颌第一恒磨牙颊沟垂线间的距离。用于代表上牙弓的位置。
(5)下颌长度(mandible length)此测量不在眼耳平面，而在下颌平面上进行。由髁突后缘作切线垂直下颌平面，再从颏前点作切线垂直下颌平面，测量两垂线间的距离。
Wylie分析法的高度测量是从鼻根点、前鼻棘及颏下点作线与眼耳平面平行，而测量各平行线间的垂直距离。
(6)全面高(N-Me)：鼻根点至颏下点的距离。
(7)面上部高(N-ANS)：鼻根点至前鼻棘的距离。
(8)面下部高(ANS-Me)：前鼻棘至颏下点的距离。
(9)N-ANS/N-Me×100%：面上部高占全面高之百分比。
(10)ANS-Me/N-Me×100%：面下部高占全面高之百分比。
以上介绍几种X线头影测量分析方法，是目前在正畸临床上应用较为广泛的。根据统计分析，角度的测量在正常合的男女间无显著差异，因而男女组可合并，而在各牙龄期组间Downs及Steiner各测量间有些测量项目有显著性差异，因而按牙龄期组分别测计，而在Tweed分析法中则无牙龄期间的差异，因而合并测计。Wylie分析法中线距测量男女间有显著差异性故也分别测计。
