下颌骨侧位检查技术

操作名称

下颌骨侧位检查技术

下颌骨侧位检查技术的适应证

下颌骨侧位检查技术适用于：

1.外伤。

2.肿瘤与囊肿。

3.下颌骨炎症性病变。

4.下颌骨发育畸形。

下颌骨侧位检查技术的禁忌证

无明确禁忌证。

准备

向患者说明检查的目的、方法和注意事项，以充分取得患者的合作。

方法

1.病人仰卧于摄影台上，双腿屈曲，对侧身体抬高，被检侧肩部下垂，前臂置于躯干旁。

2.头颅向被检侧旋转，使下颌骨支贴近暗盒。暗盒置于颈侧高、头顶侧低的15°角度板上。

3.正中矢状面与胶片平行，下颌略仰，使下颌体部下缘与暗盒下缘平齐，暗盒前缘包括颏部，后缘包括外耳孔。颈伸直，对侧肩部后展。

4.摄影距离为65～100cm。

5.中心线向头侧倾斜15°～20°，经两下颌角连线中点射入暗盒。

6.由摄影技师认真填写检查申请单的相关项目和技术参数，并签名。

注意事项

1.可利用长遮线筒或小照射野摄影。

2.根据病人具体情况，也可以采用立位或俯卧侧斜位体位摄影。

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